Анализатор размера частиц LS 13 320 XR
LS 13 320 XR выводит лазерный дифракционный анализ размера частиц на новый уровень.Усовершенствованная технология PIDS и расширенный диапазон измерений обеспечивают более высокое разрешение, а также более точные и воспроизводимые результаты. Вы можете анализировать более широкий спектр частиц и обнаруживать менее заметные различия в образцах быстрее и достовернее. Новое ПО и интуитивно понятный интерфейс помогают получить нужные данные за несколько кликов.
LS 12 320 XR – лазерный дифракционный анализатор размера частиц, обеспечивающий точные и воспроизводимые результаты для Вашего исследования. Прибор имеет 126 детекторов прямого светорассеяния и 6 детекторов PIDS, благодаря чему обеспечивается большой диапазон измерений (от 10 нм до 3500 мкм). Простое в использовании ПО оптимизирует эксперимент, позволяя получать лучшие результаты в короткое время.
Технология регистрации дифференциального рассеяния поляризованного света (PIDS).
Усовершенствованная технология PIDS позволяет анализировать рассеяние вертикально и горизонтально поляризованного света трех длин волн (450, 600 и 900 нм) под шестью углами. Благодаря повышенной чувствительности детектора, анализатор способен определять частицы субмикронных размеров.
Программное обеспечение ADAPT:
Автоматический контроль качества (QC);
- Самостоятельная диагностика в ходе измерений и информирование пользователя о результатах;
- Выполнение таких функций, как просмотр, сравнение или экспорт данных в пару кликов;
- Получение точных данных без предварительного сбора информации об образце.
Основные преимущества LS 13 320 XR:
- Расширенный диапазон измерений: 10 нм – 3,500 мкм
- Реальные (не экстраполированные) аналитические данные вплоть до 10 нм, измерения с высоким разрешением вплоть до 3,500 мкм.
Усовершенствованная технология PIDS:
Дифференциальное рассеяние поляризованного света обеспечивает более высокую точность первичных данных и повышенную чувствительность детектора к вертикально и горизонтально поляризованному рассеянному свету для анализа частиц субмикронных размеров. Недоступное ранее качество измерений.
Усовершенствованная автомодальность
Для получения правильных результатов не нужна предварительная информация о распределении частиц по размерам (например, количество фракций и пределы диапазона размеров)
Оптимизированное, интуитивное ПО
- Настройка измерений за 2 клика
- Встроенная база оптических констант
- Пользовательская диагностика
- Рационализация рабочего процесса для экономии времени
Характеристики
Производитель | Beckman Coulter |
Принцип анализа: | Прямое светорассеяние под малыми углами, дополняемое технологией PIDS (Дифференциальное рассеяние поляризованного света). Анализ вертикально и горизонтально поляризованного света под 6 углами при 3 дополнительных длинах волн. Применение теорий Фраунгофера и Ми в полном объеме. |
Размер измеряемых частиц: | 10 нм – 3,500 мкм Модуль для работы с порошками (DPS): 400 нм - 3,500 мкм Универсальный жидкостной модуль (ULM): 10 нм - 2,000 мкм |
Температурный диапазон: | 10 - 40°C |
Доставка
Мы осуществляем поставки оборудования в любую точку, транспортными компаниями:
- и другие.
Вы можете самостоятельно выбрать перевозчика.
По вашему желанию мы можем включить затраты на доставку в общую стоимость товара, а вам останется только оплатить его и получить заказ.
Оплата
Оплата возможна только по безналичному расчету.